可获得一次测量M发散角，无需移动导轨，BeamWave光束质量分析仪可测量2~16um

普通光束质量分析仪通常使用Shack-Hart nn探测器测量和取样波前能量，测量速度慢，分辨率低M2时移动繁琐等缺点。而法国BeamWave该系列光束质量分析仪析仪PhaseView公司独特的波前传感技术，CCD探测器和波前探测器只需一次成像即可立即采样，获得光束质量（M2)数据，整个过程不需要移动任何导轨部件，测量速度快，分辨率高。BeamWave革命性地放弃了传统光束质量分析仪的复杂系统，没有笨重的移动部件和多余的附件 ，单一设备可以实现分析和测量M所有激光束参数，如2因子、光束形光斑传播参数等。

BeamWave波前传感技术采用系列光束质量分析仪，其原理是CCD在检测过程中，入射激光斑将分为两束激光，分别快速和慢速到达两个CCD在探测器阵列上获得两个光束图像。光束的强度分布和波前相位分布可以通过对比分析来分析M2值、发散角、光束位置等传播参数。

法国PhaseView公司BeamWave光束质量分析仪具有独特的光束质量M2.技术以其分辨率高、测量速度快、测量功能全面、无繁琐导轨而闻名。它具有通用性强、连续性强、脉冲光束可测量、脉冲测量自动触发、功能全面等优点。非常适合激光分析、眼科仪器、科研光学精密仪器的表面和波前测量。

BeamWave系列光束质量分析仪具有分辨率高、测量速度快、测量功能更全面、导轨不繁琐等优点。Beamwave所有激光光束参数都可以用光束质量分析仪测量。包括光束发散角、光斑位置、三维能量分布、波前能量、相位分布、波前曲率半径等。同时PhaseView光束质量分析仪还可以检测波前传感曲线，设备通用性强，可以连续测量脉冲光束，非常适合客户研究各种激光参数。

PhaseView光束质量分析仪的优点：

同步测量高分辨率光强和波前

脉冲测量可以自动触发连续和脉冲光束

只需一台BeamWave所有光束参数都可以测量 ，而且价格相对优惠， 结构简单，无需维护成本

不需要复杂的移动导轨部件，即时单点M2测量，

1. 光束形状参数：光束发散角、三维能量分布、光斑位置、腰斑大小、

2. 光束传播参数：波前曲率半径、波前能量、相位分布、锐长、腰斑大小和位置等

3. M2因子